Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení : zkrácená verze Ph.D. Thesis : obor Fyzikální a materiálové inženýrství = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus / Petr Tichopádek .  [Brno :  VUTIUM],  c2006 .  31 s.   [1, z toho volných 1]