Search results
- Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení : zkrácená verze Ph.D. Thesis : obor Fyzikální a materiálové inženýrství = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus / Petr Tichopádek . [Brno : VUTIUM], c2006 . 31 s. [1, currently available 1]