Search results
- Mezinárodní metrologický slovník - Základní a všeobecné pojmy a přidružené termíny (VIM) : TNI 01 0115 . Praha : ÚNMZ, 2009 . 88 s. [1, currently available 1]
- Nejistoty měření v metrologických aplikacích - Opakovaná měření a hierarchické experimenty : ČSN P ISO/TS 21749 . Praha : Český normalizační institut, 2007 . 39 s. [1, currently available 1]
- Systémy managementu měření - Požadavky na procesy měření a měřící vybavení : ČSN EN ISO 10012 . Praha : Český normalizační institut, 2003 . 35 s. [1, currently available 1]
- Přístroje jaderné techniky - Směrnice pro výběr metrologicky podporovaných spektrometrických systémů pro jaderné záření : ČSN IEC 1276 . Praha : Český normalizační institut, 2002 . 11 s. [1, currently available 1]
- Mezinárodní slovník základních a všeobecných termínů v metrologii : ČSN 01 0115 oprava 1 . Praha : Český normalizační institut, 2002 . [1] l. [1, currently available 1]